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日本三丰
标题:表面粗糙度/轮廓度仪SV-C3100/SV-C4100
详情介绍

Formtracer(表面粗糙度/轮廓测量装置)SV-C3100/SV-C4100系列

品 牌:三丰/Mitutoyo

产品描述

大幅提高的驱动速度(X : 80 mm/s, Z2 轴立柱:20mm/s) 进一步减少了总的测量时间。

为了更长时间地保持直线度,三丰公司采用了抗老化且极耐磨的非常坚固的陶瓷导轨;

驱动器 (X 和立柱 (Z2 均配备了高精度线形编码器 (其中Z2 轴上为ABS )。因此,在垂直方向对小孔连续自动测量、对较难定位部件的重复测量的重复精度得以提高。

*为区分交流电源电压,在货号后加上以下后缀(如:525-426-1A)

A适于UL/CSA,D适于CEE,E适于BS,DC适于中国,K适于EK,无后缀适于JIS/100V。

基本技术参数:

基座尺寸 (W x H): 750 x600mm或 1000 x450mm

基座材料花岗岩

重量

 主机:140kg(S4),150kg(H4),220kg(W4)

140kg (S8),150kg(H8),220kg(W8)

 控制器:14kg

 遥控箱:0.9kg

电源: 100 – 240VAC ±10%, 50/60Hz

能耗: 400W (主机)

轮廓测量技术参数:

 测量范围:100mm或 200mm

 分辨率: 0.05μm

 检测方法反射型线性编码器

 驱动速度:80mm/s、外加手动

 测量速度: 0.02 -5mm/s

 移动方向向前/向后

 直线度: 0.8μm /100mm, 2μm /200mm

轴为水平方向上

 直线位移: ±(1+0.01L)μm (SV-C3100S4, H4, W4)

 精度 (20° C) ±(0.8+0.01L)μm (SV-C4100S4, H4, W4)

±(1+0.02L)μm (SV-C3100S8, H8, W8)

±(0.8+0.02L)μm (SV-C4100S8, H8, W8)

* L 为驱动长度(mm)

 倾角范围: ±45°

Z2 轴 (立柱)

 垂直移动:300mm或 500mm

 分辨率: 1μm

 检测方法: ABSOLUTE 线性编码器

 驱动速度: 0 -20mm/s、外加手动

Z1 轴 (检测器)

 测量范围: ±25mm

分辨率: 0.2μm (SV-C3100),

  0.05μm (SV-C4100)

 检测方法线性编码器 (SV-C3100),

  激光全息测微计 (SV-C4100)

 直线位移: ±(2+I4HI/100)μm (SV-C3100)

精度 (20° C) ±(0.8+I0.5HI/25)μm (SV-C4100)

*H: 基于水平位置的测量高度(mm)

 测针上/下运作弧形移动

 测针方向向上/向下

 测力: 30mN

 跟踪角度向上: 77° , 向下: 87°

(使用配置的标准测头,依表面粗

糙度而定)

测针针尖 尖端半径: 25μm、硬质合金尖端

表面粗糙度测量的技术参数:

X1 

 测量范围:100mm或 200mm

 分辨率: 0.05μm

 检测方法线性编码器

 驱动速度:80mm/s

 移动方向向后

 直线度: (0.05+1.5L/1000)μm (S4, H4, W4 )

0.5μm/200mm(S8, H8, W8 )

Z2 轴 (立柱)

 垂直移动:300mm或 500mm

 分辨率: 1μm

 检测方法: ABSOLUTE 线性编码器

 驱动速度: 0 -20mm/s、外加手动

检测器

 范围/分辨率: 800μm / 0.01μm, 80μm / 0.001μm,

8μm / 0.0001μm

(2400μm 使用测头选件)

 检测方法无轨/有轨测量

 测力: 4mN 或 0.75mN (低测力型)

 测针针尖金刚石、90? / 5μmR

(60? / 2μmR: 低测力型)

 导头曲率半径:40mm

 检测方法差动电感式

使用旋转工作台 使用轴工作台 q1

使用旋转工作台 q2

自动测量

在与CNC 机型配套使用的众多外设选件

的支持下,可实现自动测量。

SV-C3100S4

PC 和数据分析软件的SV-C3100S4

表面粗糙度测量

直线度: ±(0.05+0.001L)μm*

专用于需要高精度测量的工件。

*S4 型、H4 型、W4 型;为驱动长度 (mm)

符合JIS '82/'94/'01, ISO, ANSI, DIN, VDA 等表面

粗糙度的国际标准。

标准配置:高精度测头 (0.75mN / 4mN 测力

分辨率高至0.0001μm

轮廓驱动测量

? X 轴精度: ±(0.8+0.01L)μm*

Z1 轴精度: ±(0.8+I0.5HI/25)μm*

专用于需要高精度测量的工件。

* SV-C4100S4 型、H4 型、W4 型;为驱动长度, H 为测量高度 (mm)

? SV-C4100 系列的轮廓驱动器配备了激光全

息测微计测头,Z1 轴宽/窄范围均能达

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